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NXP Semiconductors
ESD TESTER
PESDxS4UD series
Quadruple ESD protection diode arrays in a SOT457 package
4 GHz DIGITAL
Rd
450 ?
RG 223/U
50 ? coax
10 ×
OSCILLOSCOPE
ATTENUATOR
Cs
IEC 61000-4-2 network
C s = 150 pF; R d = 330 ?
DUT
(DEVICE
UNDER
TEST)
50 ?
vertical scale = 200 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
GND
vertical scale = 20 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
PESD24VS4UD
PESD15VS4UD
GND
PESD12VS4UD
GND
PESD5V0S4UD
GND
GND
unclamped + 1 kV ESD voltage waveform
(IEC 61000-4-2 network)
GND
PESD3V3S4UD
clamped + 1 kV ESD voltage waveform
(IEC 61000-4-2 network)
GND
GND
vertical scale = 200 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
unclamped ? 1 kV ESD voltage waveform
vertical scale = 10 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
clamped ? 1 kV ESD voltage waveform
(IEC 61000-4-2 network)
Fig 9.
ESD clamping test setup and waveforms
PESDXS4UD_SER_2
(IEC 61000-4-2 network)
006aaa761
? NXP B.V. 2009. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 02 — 21 August 2009
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